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薄膜積層化で整数量子ホール効果を従来より高温?弱磁場で実現-トポロジカル絶縁体の表面ワイル状態制御へ新設計指針-

理化学研究所(理研)創発物性科学研究センター強相関物性研究グループの吉見龍太郎研修生(東京大学大学院工学系研究科博士課程)、安田憲司研修生(同研究科修士課程)、十倉好紀グループディレクター(同研究科教授)、強相関界面研究グループの川﨑雅司グループディレクター(同研究科教授)、東北大学金属材料研究所の塚﨑敦教授らの共同研究グループは、新物質のトポロジカル絶縁体「(Bi1-xSbx)2Te3」薄膜上に磁性元素のクロム(Cr)を添加した層を積層させることで、エネルギー損失が極めて小さい電流が流れる「整数量子ホール効果」を従来より高温?弱磁場で実現し、トポロジカル絶縁体の表面ワイル状態の制御に向けた新しい設計指針として有効であることを実証しました。

トポロジカル絶縁体積層薄膜と電界効果型トランジスタ構造

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問い合わせ先

《研究に関すること》
東北大学 金属材料研究所
教授 塚﨑 敦(つかざき あつし)
TEL:022-215-2085
Email:tsukazaki*imr.tohoku.ac.jp(*を@に置き換えてください)

《報道に関すること》
東北大学 金属材料研究所 
情報企画室広報班 横山 美沙(よこやま みさ)  
TEL:022-215-2144 
Fax:022-215-2182 
Email:pro-adm*imr.tohoku.ac.jp(*を@に置き換えてください)

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